二次级离子质谱仪(SIMS)
二次级离子质谱仪(SIMS)
原理:通过发射热电子电离氩气或氧气等离子体轰击样品的表面,探测样品表面溢出的荷电离子或离子团来表征样品成分。可以对同位素分布进行成像,铁系磷化液配方,表征样品成分;探测样品成分的纵向分布
适合分析材料:金属,半导体陶瓷,**物
应用领域:物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。
特点:
⑴对某些元素较其表面灵敏(10-6单层);在静态模式下探测深度限制在较**单层。
⑵可测所有元素,包括H和同位素识别。
⑶较好的横向分辨(1m)。
⑷在动态模式下同时深度剖析。
⑸在动态模式下具有探测搀杂级浓度的充分的灵敏度动态范围的技术。
⑹Cluster相对强度的有限化学信息。
电感耦合等离子体质谱仪
原理:测定时样品由载气(氩气)引入雾化系统进行雾化后,以气溶胶形式进入等离子体中心区,在高温和惰性气氛中被去溶剂化、汽化解离和电离,锰系磷化液配方,转化成带正电荷的正离子,经离子采集系统进入质谱仪,质谱仪根据质荷比进行分离,根据元素质谱峰强度测定样品中相应元素的含量.
适合分析材料:金属,磷化液,非金属等材料
应用领域:环境、半导体、医学、生物、冶金、石油、核材料等领域
特点:谱图简单;检出限,特别是对重金属元素;线性范围宽;快速同位素比值测量能力;所需样品量小。
检测范围及检出限:
多种**物及无机物的定性和定量分析、复杂化合物的结构分析、样品中各种同位素比的测定及固体表面的结构和组成分析等。
电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES /ICP-OES)
原理:利用等离子体激发光源(ICP)使试样蒸发汽化,离解或分解为原子状态,原子可进一步电离成离子状态,原子及离子在光源中激发发光。利用分光系统将光源发射的光分解为按波长排列的光谱,之后利用光电器件检测光谱,根据测定得到的光谱波长对试样进行定性分析,按发射光强度进行定量分析。
适合分析材料:高纯有色金属及其合金;金属材料、电源材料、贵金属,电子、通讯材料及其包装材料;医疗器械及其包装材料
应用领域: 冶金、地矿、建材、机械、化工、农业、环保、食品和医药等多种领域
注意事项:需要对样品进行溶解后再进行测定
特点:
1、可测元素70多种;
2、分析速度快,一分钟可测5-8个元素,中阶梯二维分光系统,锌系磷化液配方,具备更高的分辨能力;
3、多元素同时分析,客户可以自由选择元素数量与安排测量顺序;
4、检出限低,达到ppb量级,Ba甚至达到0.7ppb;
5、线性动态范围宽,高达6个数量级,高低含量可以同时测量;
6、分析成本低。
检测范围及检出限:
用于微量元素分析和有害物质检测,不同元素较di检测限是不同的